Pd、Al 和 Au 引線鍵合優(yōu)劣對比

優(yōu)勢

1) 在引線框架的Ni鍍層上電鍍一層薄的Pd層，作為封裝、PCB和可鍵合表面頂層的保護層

2）鈀薄膜層與Au線的月牙形鍵合和Al線的楔形鍵合不存在可靠性問題。

3）金線與Pd薄膜層的新月形鍵合不同于鍍銀引線框架上的鍵合，但在更高功率等產(chǎn)品應(yīng)用中已實現(xiàn)量產(chǎn)

4）Pd和Au之間沒有金屬間化合物（混溶體系）

5) Pd 具有高表面自由能，對模塑料和芯片環(huán)氧樹脂鍵合具有良好的附著力 

6) 良好的可焊性

潛在因素

1）Pd和Al之間存在較多的金屬間化合物。薄鈀涂層形成無害的固溶體，不含脆性金屬間化合物

2）Pd迅速吸收H，然后膨脹和脆化。在所有組裝完成之前，必須注意防止 Pd 的暴露 3) Pd 在 400°C 左右會被氧化，鍵合性會降低。

4) 使用紫外臭氧或O2等離子清洗會氧化Pd，降低鍵合性。好的清洗方法是用氬等離子清洗

5）鍍鈀的成本比鍍銀點高，總封裝成本來證明

6）薄Pd層容易劃傷，必須改進引線框架的修整成型工藝；同時，在月牙形粘接過程中，瓷尖磨損較快

7）引線框架鍍鈀與PC板鍍鈀之間釬焊時需要激活DOE